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JJ X-Ray

超高真空狭缝系统与同步辐射光源的应用

超高真空狭缝系统在同步辐射光源实验中发挥着关键作用,其主要应用领域包括:

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JJ X-Ray 超高真空狭缝 WHITE BEAM SLITS – UP TO 4000W

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光束线衍射仪器: 超高真空狭缝系统通常用于X射线或紫外光束线上的衍射仪器,如X射线衍射仪、X射线吸收光谱仪、紫外-可见吸收光谱仪等。这些仪器用于研究材料的晶体结构、原子排列以及材料的电子结构等。

光束线干涉仪器: 超高真空狭缝系统可用于光束线干涉仪器,如干涉仪或干涉光谱仪。这些仪器用于测量光束线中的相位差,以获得关于材料性质和结构的信息。

光束线聚焦系统: 超高真空狭缝系统可用于光束线的聚焦系统,如复合折射透镜(CRL)系统。这些系统可以用于将同步辐射光束聚焦到很小的焦点,用于微纳米尺度的成像和分析。

样品环境控制: 超高真空狭缝系统可以用于控制同步辐射实验的样品环境,包括温度、气氛、压力等。这对于一些需要特殊环境条件的实验非常重要。

表面分析: 超高真空狭缝系统在表面分析实验中广泛使用,包括扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)等。这些仪器用于研究材料表面的拓扑结构、表面化学成分以及原子尺度的表面现象。

脱附气体质谱仪: 超高真空狭缝系统也用于脱附气体质谱仪,用于分析材料表面的脱附气体,以了解材料性质和反应机制。

以上就是北京麦迪森科技有限公司提供的超高真空狭缝系统与同步辐射光源应用的介绍。

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